探头的近场长度由下式决定（式中λ波长，f频率，D晶片直径）（）。 A、N=1.22λ/D。 B、N=D/4λ。 C、N=D2/4λ。 D、N=2/D。
商品的使用价值是指商品对其消费（使用）者的（）
销售包装标志
用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。 A、愈高愈好。 B、愈低愈好。 C、不太高。 D、较寻常时取高值。
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。 A、面积大的，当量也一定大。 B、面积大的，当量不一定比面积小的大。 C、面积大的，当量反而比面积小的小。 D、相等。
如果探测面毛糙，应该采用（）。
