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问题:

[单选] 晶体三极管的基极、集电极和发射极分别用()表示。

A、b、c、e。B、b、e、c。C、b、s、e。D、e、c、b。

问题:

[单选] CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得2个反射回波用于校正()。

A、横波扫描速度。B、纵波扫描速度。C、分辨率。D、入射点。

问题:

[单选] CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。

A、入射点。B、折射角。C、分辨率。D、K值。

问题:

[单选] CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的()。

A、水平线性。B、垂直线性。C、楔内回波幅度。D、水平线性和垂直线性。

问题:

[单选] CSK-1A试块R100圆弧面可测定()。

A、斜探头入射点。B、横波探测范围。C、横波声速。D、上述都可以。

问题:

[单选] CSK-1A试块91底面的()纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。

A、一次。B、二次。C、三次。D、四次。

问题:

[单选] CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。

A、>1.5。B、>2。C、>2.5。D、>3。

问题:

[单选] CSK-1A试块有机玻璃可测定()。

A、直探头盲区。B、直探头穿透能力。C、直探头盲区和穿透能力。D、上述都不能测。

问题:

[单选] H-1型半圆试块()。

A、可调整探测范围。B、可测定直探头距离幅度特性。C、可测定斜探头的入射角和折射角。D、A与C都对。

问题:

[单选] 阶梯试块主要用于测定()的距离幅度特性和阻塞范围。

A、斜探头。B、直探头。C、聚焦探头。D、可变角探头。